Korkean tarkkuuden lähdemittarin käyttö diodimassatuotantotestissä

Diodi on elektroninen laite, joka on valmistettu puolijohdemateriaaleista (pii, seleeni, germanium jne.). Sillä on yksisuuntainen johtavuus, eli kun diodin anodiin syötetään myötäjännite, diodi kytkeytyy päälle. Kun anodille ja katodille syötetään käänteinen jännite, diodi sammuu. Diodeja käytetään laajalti. Erityisesti erilaisissa elektroniikkapiireissä diodit yhdistetään järkevästi komponentteihin, kuten vastuksiin, kondensaattoreihin ja induktoreihin, jolloin muodostuu eri toimintoisia piirejä, jotka voivat toteuttaa useita toimintoja, kuten AC-tasasuuntauksen, moduloitujen signaalien havaitsemisen, amplitudin rajoituksen ja kiinnityksen, ja virtalähteen jännitteen stabilointi. Jopa yleisissä radiopiireissä tai muissa kodinkoneissa tai teollisuuden ohjauspiireissä, diodien jälkiä löytyy.

Diodien erätuotantotestien ja laboratorio-olosuhteissa tehtyjen dioditestausten välillä on suuri ero. Ensinnäkin teollisen testauksen eräkoko on suuri, ja testauslaite testaa keskimäärin kymmeniä tuhansia diodeja päivässä. Pakattujen diodien hinta maailmanmarkkinoilla on yleensä halvempi, ja vain laajamittainen tuotanto voi saavuttaa suuren läpimenon, joka tekee valmistajista kannattavia. Siksi laitteen on saavutettava jatkuva ja nopea testaus. Toiseksi testauslaitteen on oltava tietynasteisesti monipuolinen, sen on kyettävä testaamaan erityyppisiä pakattuja diodeja ja sen on kyettävä vaihtamaan tyyppiä milloin tahansa. Kolmanneksi sen on käytettävä jännitettä tai virtaa tiukasti testausolosuhteiden mukaisesti tietyn testitarkkuuden varmistamiseksi. Siksi pakattujen diodien testausjärjestelmä on integroitu ja täysin automaattinen järjestelmä, joka pystyy suorittamaan useita tehtäviä diodien syötöstä, järjestämisestä, testaamisesta, silkkipainatuksesta pakkaamiseen. Manuaalista puuttumista ei tarvita koko testin aikana.

Dioditestausjärjestelmä koostuu kahdesta osasta. Toinen osa on ohjauskone (manipulaattori, kiinnitin, kuljetin jne.), joka pääasiassa ohjaa diodien koko prosessia syötöstä pakkaamiseen. Toinen osa on NGI:n tarkka digitaalinen lähdemittari, jota käytetään testiolosuhteiden asettamiseen diodin pääparametrien, kuten päällekytkentäjännitteen (VF), vastavirtaläpivirtajännitteen (VR) ja vuotovirran (IR), testaamiseksi. Sillä on myös toimintoja, kuten luokitus, seulonta ja järjestely.

NGI N2600 -sarjan erittäin tarkka digitaalinen lähdemittari toimii neljässä kvadrantissa ja integroi kuusi toimintoa: jännitelähteen, virtalähteen, digitaalisen yleismittarin (I/V/R-mittaus) ja kuorman. Mittausalue kattaa 200 V - 1 μV, 1 A - 10 pA, 200 MΩ - 10 μΩ, ja mittaustarkkuus on 6.5 numeroa. Siinä on sisäänrakennettu skannaustila, digitaalinen I/O, raja-arvotesti, synkroninen liipaisin, signaaligeneraattori, funktiolaskuri ja muita toimintoja, ja se tarjoaa ilmaisen PC-ohjausohjelmiston, joka sopii täydellisesti koteloitujen diodien erätuotantotestaukseen.

N2600-sarjan erittäin tarkka digitaalinen lähdemittaripöytä on varustettu 10 digitaalisella I/O-portilla. Digitaalista I/O-signaalia voidaan käyttää yhteyden muodostamiseen manipulaattoriin manipulaattorin ohjaamiseksi, jotta voidaan suorittaa napaisuustesti ja diodin luokitustestaus. Diodit voidaan luokitella tuotevikatasoiksi sähköisen suorituskykytestauksen avulla, jotka jaetaan yleensä neljään tasoon: AAA, AA, A ja D. Vialliset tuotteet poistetaan asteittaisella seulonnalla, ja valmistaja voi toimittaa asiakkaan tarpeiden mukaan. Lähdemittarin jokaisen digitaalisen I/O-portin lähtösignaali edustaa tietynlaista tietoa, kuten "toimiva laite", "vaurioitunut laite", "pyörivä laite" jne. Diodi tai diodipaketti asetetaan testilaitteeseen ja kytketään lähdemittarin lähtöön. Diodipaketista riippuen jotkut diodit ovat valoherkkiä. Haitallisten virtojen estämiseksi käytetään yleensä testiympäristökammiota, joka voi suojata diodia valolta. Lähdemittari syöttää diodille jännite- tai virtajännitettä ja suorittaa mittauksen loppuun, vertaa mittaustulosta ennalta asetettuun ääriarvoon ja tekee hyväksymis- tai hylkäysarvion.

● Usean lähteen mittareiden synkroninen liipaisutestausprosessi

1. Käyttäjä lähettää toimintakäskyn isäntätietokoneen kautta napsauttamalla "Aloita testi" -painiketta ja odottaa, että kuljetin, robotti ja kiinnitin syöttävät diodin tuotantoerän.
2. Isäntätietokone lähettää ohjeita lähiverkon kautta N2600-lähdemittarin ohjaamiseksi toiminnan aloittamiseksi.
3. Lähdemittari N2600 odottaa robotin käynnistystestin (SOT) liipaisusignaalia.
4. Robotti lähettää SOT-liipaisusignaalin lähdemittarille N2600, mikä osoittaa, että kaikki diodit ovat valmiita synkroniseen testaukseen.
5. Usean lähteen mittarit N2600 käynnistetään synkronisesti suorittamaan napaisuustestejä. Jos diodin napaisuustesti on positiivinen, usean lähteen mittarit N2600 jatkavat toimintatestiä (vaihe 6). Jos diodin napaisuustesti on käänteinen, lähetä digitaalinen IO-signaali robotille laitteen pyörittämiseksi ja palaa vaiheeseen 4. (Kun napaisuustesti on käänteinen, laitetta voidaan myös pyörittää ilman pyörimistä. Koska lähdemittari N2600 toimii neljässä kvadrantissa, jännitteen ja virran lähtösuuntaa voidaan ohjata ohjelmistolla testin suorittamiseksi, mikä säästää laitetta pyörittävän robotin toiminta-aikaa.)
6. Kun diodin napaisuus on positiivinen, lähdemittari N2600 suorittaa diodin toimintatestin testiohjelman ilmoittamassa järjestyksessä, tekee pätevän arvion ja tallentaa kunkin testin tiedot.
7. Lähdemittari N2600 lähettää digitaalisen IO-signaalin robotille luokittelua ja lajittelua varten ja lähettää testin loppusignaalin (EOT) robotille laatikointitoimintoa varten ja tallentaa kunkin laatikoinnin tuotetiedot.
8. Odota seuraavaa diodin syöttötestiä ja toista yllä olevat testivaiheet automaattisesti.